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信頼性試験技術 益田 昭彦(著/文 | 編集) - 日科技連出版社
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信頼性技術叢書

信頼性試験技術

A5判
縦210mm 横148mm 厚さ15mm
重さ 398g
272ページ
定価 3,800円+税
ISBN
9784817196866
Cコード
C3050
専門 単行本 工学・工学総記
出版社在庫情報
不明
初版年月日
2019年12月31日
書店発売日
登録日
2019年12月5日
最終更新日
2019年12月16日
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紹介

 本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。
 第1章から第7章で、信頼性試験の前提となる知識や、基本の全体像、信頼性試験技術の各論を解説している。それに加えて、第8章「信頼性試験のフロンティア」として、最新の研究を取り上げている。また、第9章「信頼性試験運用上の留意点」として、信頼性試験を計画し、実施しようとする技術者が活用できる、著者らの実務経験から整理した留意点や避けるべき落とし穴などについて解説している。

目次

第1章 信頼性の基礎
第2章 故障物理モデルと故障解析
第3章 信頼性データ解析の要点
第4章 信頼性試験の概念と進め方
第5章 加速試験
第6章 信頼性抜取試験
第7章 信頼性スクリーニングと信頼度成長試験
第8章 信頼性試験のフロンティア
第9章 信頼性試験運用上の留意点

著者プロフィール

益田 昭彦  (マスダ アキヒコ)  (著/文 | 編集

益田昭彦
1940年生まれ。
電気通信大学大学院博士課程 修了。工学博士。
日本電気(株)にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事(本社主席技師長)。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、IEC/TC56信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。
現在、信頼性七つ道具(R7)実践工房 代表、技術コンサルタント。

鈴木 和幸  (スズキ カズユキ)  (著/文

鈴木和幸
1950年生まれ。
東京工業大学大学院博士課程 修了。工学博士。
電気通信大学 名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科 特任教授。

原田 文明  (ハラダ フミアキ)  (著/文

原田文明
1954年生まれ。
東京理科大学卒業。
富士ゼロックス(株)で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。
現在、D-Techパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、IEC TC56(ディペンダビリティ)専門委員、同国内委員会WG2(技法)主査。

山 悟  (ヤマ サトル)  (著/文

山悟
1949年生まれ。
国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。
現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。

横川 慎二  (ヨコガワ シンジ)  (著/文

横川慎二
1970年生まれ。
電気通信大学大学院博士前期課程修了。
現在、電気通信大学 i-パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域 教授、博士(工学)。

上記内容は本書刊行時のものです。