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現代テスト理論 池田 央(著/文) - 朝倉書店
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【利用不可】

現代テスト理論 (ゲンダイ テスト リロン)

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発行:朝倉書店
縦220mm
200ページ
価格情報なし
ISBN
978-4-254-12647-1   COPY
ISBN 13
9784254126471   COPY
ISBN 10h
4-254-12647-6   COPY
ISBN 10
4254126476   COPY
出版者記号
254   COPY
出版社在庫情報
不明
初版年月日
1994年10月
登録日
2017年3月27日
最終更新日
2017年3月27日
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紹介

本書では、パソコンによるシミュレーション実験をふんだんに取り入れながら、単に本を読んで意味を頭で理解するだけでなく、パソコン体験を通して実際のテストの動きと同じようなテストを再現し、その振る舞いを観察することからテスト理論の意味を理解していただくことを心掛けた。

目次

1 古典的テスト理論
2 一般化可能性理論
3 項目応答理論
4 テストのシミュレーション
5 提供プログラム(IRT)による特性値の推定
6 項目応答理論の応用と展開

上記内容は本書刊行時のものです。